尼克斯小型測(cè)厚儀QNix 4200/4500

• 更新時(shí)間：2018-08-31
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尼克斯小型測(cè)厚儀QNix 4200/4500
使用QNix®4200/4500產(chǎn)品線，即使在日常使用過程中，鋼鐵，鐵（Fe）和非鐵（NFe）金屬也能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量。 簡單地放置量規(guī)將開始測(cè)量過程，并且器件在測(cè)量期間識(shí)別是否選擇了正確的襯底。 如果需要，儀表會(huì)自動(dòng)切換到相應(yīng)的載體材料進(jìn)行后續(xù)測(cè)量; 無校準(zhǔn)，對(duì)于黑色金屬和0 - 3000μm的整個(gè)測(cè)量范圍為0 - 5000μm，用于有色金屬測(cè)量。

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尼克斯小型測(cè)厚儀QNix 4200/4500

使用QNix®4200/4500產(chǎn)品線，即使在日常使用過程中，鋼鐵，鐵（Fe）和非鐵（NFe）金屬也能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量。 簡單地放置量規(guī)將開始測(cè)量過程，并且器件在測(cè)量期間識(shí)別是否選擇了正確的襯底。 如果需要，儀表會(huì)自動(dòng)切換到相應(yīng)的載體材料進(jìn)行后續(xù)測(cè)量; 無校準(zhǔn)，對(duì)于黑色金屬和0 - 3000μm的整個(gè)測(cè)量范圍為0 - 5000μm，用于有色金屬測(cè)量。

QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。（Fe）QNix®4500（含 QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5 可測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度。（Fe/NFe雙用）標(biāo)準(zhǔn)：符合 ISO 2178,2360,2808 及 ASTM B 499,D709 標(biāo)準(zhǔn)

尼克斯QNix 4200/4500

QNix 4200/4500使用說明：

1.開機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將自動(dòng)開機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置： 開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng)，QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng)，
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測(cè)量模式，這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。
3、進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后，儀器顯示取平均值，在“開”選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”）即可。

QNix4200特點(diǎn)：
     1 簡單快速測(cè)量
     2 不需要校準(zhǔn)
     3 自動(dòng)開關(guān)機(jī)
     4 大量程FE:0-3000um
     5 探頭，性價(jià)比高
     6 霍爾傳感器讓測(cè)量更穩(wěn)定
     7 測(cè)量時(shí)聲音同步
     8 紅寶石耐磨頭，壽命長
     9 背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
    10自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體
    11 分體式探頭，滿足不同的測(cè)量環(huán)境